簡要描述:阻抗分析儀IM3570功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
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阻抗分析儀IM3570產(chǎn)品特點(diǎn): 1臺儀器實(shí)現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查 LCR模式下zui快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量 基本精度±0.08%的高精度測量 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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